普析推出高端紫外 杂散光目标全球最高（1）
发布时间：2024-02-17 04:34:02作者：倍加福传感器
2012年8月31日，我国剖析测验协会针对北京普析通用仪器有限责任公司（以下简称普析）最新推出的T10双光束紫外可见分光光度计在北京世纪金源大饭店召开了技术判定会。普析通用公司领导及有关部门职工、业界专家及媒体近50人与会。
判定专家组由清华大学我国工程院院士金国藩院士和来自我国剖析测验协会、重点高校以及职业的专家组成。金国藩院士担任判定委员会主任、我国剖析测验学协会副理事长张渝英任判定专家组副组长。