以白光干与技能为原理，可以以优于纳米级的分辨率，测验各类外表并主动聚集丈量工件获取2D，3D外表粗糙度、概括等一百余项参数，大范围的应用于光学，半导体，资料，精密机械等等范畴。是一款非触摸丈量样品外表描摹的光学丈量仪器。

  8.进入数据处理界面，点击“校平”图标，和平面样品不同，台阶样品需手动选取基准区域，选好基准区域后，先“悉数扫除”再“包含”；

  9.若样品外表有好几处区域均为平面且高度一致，可多挑选几个区域作为基准面进行校平；

  10.台阶高度丈量：线.进入剖析东西界面，点击“台阶高度”图标，即可直接获取主动查验测验状态下的面台阶高度相关数据；

  12.在右侧点击“手动检测”，根据需求挑选正真适宜的形状作为平面1和平面2的丈量区域，数据栏可直接读取两个区域的面台阶高度数值；

  13.台阶高度丈量：线.进入数据处理界面，点击“提取剖面”图标，运用适宜方向的剖面线，提取方针方位的剖面概括曲线.进入剖析东西界面，点击“台阶高度”图标，因为所测为中心凹槽到两边平面高度，因而点击右侧东西栏，丈量条对数挑选“2”，将赤色基准线对放置到凹槽平面中心，两对丈量线对别离放置在两边平面，即可在数据缆读取台阶高度数据。