落地式ContourX-1000 白光干与（WLI）系统集成了Bruker 在硬件和软件上的最新技能， 可 用于全主动三维外表纹路和粗糙度丈量。全新的一键式高档寻觅外表 （Advanced Find Surface ™）功用结合主动聚集和主动照明功用，无需每次丈量前手动查找样品外表，极大提高了运用者实在的体会且缩短丈量时刻。结合自适应丈量形式 USI 和简 洁的引导式 VisionXpress ™操作界面，ContourX-1000 在任何外表，任何操作人员，乃至多用户高负荷的出产设备下都可供给不打扣头的准确丈量。

  1、优异的设备硬件规划：ContourX-1000具有Bruker专利的歪斜/俯仰光学头和特有的双光源及主动化功用样品台，可以为有难度的外表和深沟槽结构供给快速且优异的解决方案。 2、高丈量准确性：ContourX-1000具有自校准激光和集成的防震台，使其可以与其它东西高度匹配并明显提高作业稳定性，确保丈量功能。 3、主动化丈量与剖析：ContourX-1000的大局扫描干与(USI)自适应丈量形式可主动确认丈量参数，确保测验在数十纳米标准内也可获得纳米级分辨率。供给的丈量和剖析软件带有简练且有引导性的程序和形式，更大程度的便利用户运用。

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