ContourGT-X 是实验室研制和工业生产均可适用的高性能仪器。它积累了前十代产品在白光干与技能上的立异，完成了快速地三维外表丈量，从纳米级外表粗糙度丈量到毫米级台阶的丈量，笔直分辨率可达亚纳米级。可编程的 XYZ 操控和共同的扫描头主动操控，使得仪器测验空间极大的拓宽，多种主动化功用，使操作运用简便易行。装备的 Vision64 软件，具有业界超强的数据剖析功用，其优化规划的用户界面为运用者自行界说丈量和数据剖析供给了极大的便当。内部激光自校准独有技能能主动校准因环境或机械不稳定发生的漂移，无需规范块，削减运用本钱确保测验的精准度。

  广泛应用于半导体资料外表粗糙度、陶瓷基板的翘曲度、激光刻蚀痕迹、BUMP 三维结构、MEMS 器材要害尺度、TSV 孔尺度和精密机械加工部件等范畴的丈量。