2025年2月27日，以“机器视觉与AI赋能泛半导体制作工业高质量开展大会”为主题的VisionCon视觉体系模块规划技能会议，在合肥成功举行。

  会议聚集机器视觉与AI在泛半导体制作各环节的立异使用，会聚多方职业专家和企业代表，旨在沟通机器视觉、AI技能的最新进展，推进泛半导体制作工业智能化、高效化开展。

  会议期间，埃科光电光学工程师唐俊峰博士带来了一场精彩的主题讲演——《亚微米检测精度光学传感器在半导体缺点查验测验中的使用》，具体的介绍了埃科光电自主研制的光学传感器：智能对焦传感器和线光谱共焦传感器。

  智能对焦传感器（IFU-S6）选用线激光辅佐主动对焦技能，经过收集对应样品外表反射的激光信号，主动感知物镜到对焦样品外表的间隔，并依据物镜的离焦状况实时确认并输出运动组织的操控信号，操控物镜运动到对焦方位，确保成像体系一直收集到高对比度图片。

  该体系具有对焦规模大、对焦精度高、对焦速度快的长处，可满意显现面板、半导体、PCB、生物医疗等范畴的亚微米级高精度检测需求。

  埃科线光谱共焦传感器系列，根据同轴式光谱共聚集技能开发而成，供给高达30KHz扫描速度、最大丈量视界10.2mm，X方向分辨率可达1.9um，Z方向重复精度可达50nm，具有高精度、高速度、多功能、无触摸在线检测等优势，为半导体、消费电子和动力电池等精细制作业供给杰出检测计划。

  讲演现场气氛火热特殊，唐俊峰博士与参会嘉宾活跃互动、深化沟通。我们环绕高速主动对焦技能的最新打破及实践使用展开了充沛讨论，埃科光电的技能成果赢得了在场嘉宾的广泛重视与高度认可，逐渐提升了埃科光电在职业界的知名度和影响力。

  此次参会，不只展现了埃科光电在光学传感器范畴的技能实力，更为职业开展注入了新的生机。未来，埃科光电会持续坚持立异，进军“无人区”，探究未来“卡脖子”难题，盼与更多同伴携手，助力全球制作业智能化晋级。