是以白光干与技能原理，对各种精细器材标明上进行纳米级丈量的仪器，通过丈量干与条纹的改变来丈量外表三维描摹，专用于精细零部件之重点部位外表粗糙度、细小描摹概括及尺度的非触摸式快速丈量。它具有丈量精度高、操作快捷、功用完全、丈量参数包括面广的长处，丈量单个精细器材的进程用时短，保证了高款率检测。

  (1)SuperViewW1光学3d概括丈量仪设备供给表征微观描摹的粗糙度和台阶高、视点等概括尺度丈量功用；

  (4)剖析中供给校平、图画修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功用；

  (5)剖析中供给粗糙度剖析、几许概括剖析、结构剖析、频率剖析、功用剖析等五大剖析功用；

  对各种产品、部件和资料外表的平面度、粗糙度、波纹度、面形概括、外表缺点、磨损状况、腐蚀状况、孔隙空隙、台阶高度、曲折变形状况、加工状况等外表描摹特征做丈量和剖析。

  SuperViewW1光学3d概括丈量仪可大规模的应用于半导体制作及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精细配件、光学加工、微纳资料及制作、轿车零部件、MEMS器材等超精细加工职业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体外表，从纳米到微米等级工件的粗糙度、平整度、微观几许概括、曲率等，供给相关根据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外规范合计300余种2D、3D参数作为点评规范。