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布鲁克三维光学轮廓仪白光干涉仪 ContourX-200_汽车行业_开云体育app入口-开云登录
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布鲁克三维光学轮廓仪白光干涉仪 ContourX-200

发布时间:2024-12-30 15:20:53作者:汽车行业

  ContourX-200 光学轮廓仪具有强大的表征能力,支持可选定制配件,使用起来更便捷,是一款测量准确、可重复性高的非接触式光学三维表面计量系统。设备设计简约,占用空间小,配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台,具有强大的二维/三维高分辨测量能力。

  ContourX-200 拥有出色的 Z 轴分辨率和精确度,具备布鲁克专有的白光干涉(WLI)技术广受业界认可的所有优势,而且不存在传统共聚焦显微镜和同类普通光学轮廓仪的局限性。

  基于超过 40 年的 WLI(白光干涉技术) 自主研发成果,ContourX-200 光学轮廓仪能够很好的满足定量计量所需的低噪声、高速、准确度和精确度等需求。利用多种物镜和特征图案识别功能,设备能在多种视野内以亚纳米垂直分辨率来跟踪特征,从而提供不受放大倍数影响的结果,可用在所有不一样的行业中的质量控制和过程监控应用。

  ContourX-200 在反射率 0.05% 到 100% 的表面情况下都能发挥稳定性能。创新的硬件设计环境,包括为获取更大拼接而创新设计的工作台,5百万像素摄像头,采用1200x1000 测量阵列,可以在一定程度上完成低噪声、更大视场和更高横向分辨率。

  全新的通用扫描干涉(USI)测量模式可提供全自动、自感知表面纹理、优化信号处理等功能,同时对所分析的表面形貌执行准确的计算。

  系统的新型摄像头提供了更大的视野,新型电动XY平台提供了更灵活定位能力,为各种样品和零件提供了更大的适用性和更高的测试通量,使ContourX-200能够在软硬件上进一步的有效结合,展现了卓越的光学性能和强大的计量分析能力。

  ContourX-200采用强大的 VisionXpress 和 Vision64 分析软件,具备更易于使用的界面和简洁的功能,提供超过千种的定制分析参数,可访问多种预编程滤镜和分析工具,适用于精密加工的表面,如薄膜、半导体、眼科、医疗设施、MEMS和摩擦学等领域的测量分析,有效提升实验室或工厂的效率。

  保持精密工程零件的表面纹理和几何尺寸在严格的规格限制内,在监控、跟踪、评估过程以及评估GD&T合规性时,提供有效的反馈和报告。

  适用于高通量、高度可重复的蚀刻深度、薄膜厚度、台阶高度和表面粗糙度的测量,以及MEMS和光学MEMS的临界尺寸计量。光学轮廓仪可以在从晶圆到测试的整个制作的完整过程中,甚至通过透明封装来表征器件的特性。

  在整个产品的生命周期内,对植入物的材料和部件进行精确、可重复的测量。布鲁克的WLI(白光干涉)光学轮廓仪能够为研发、QA和QC分析提供支持,应用场景范围涵盖镜片和注塑模具的表面参数表征、医疗设施的表面光洁度验证和磨损情况检测等。

  测量、分析和控制摩擦、磨损、润滑和腐蚀对材料/部件性能和寿命的影响。可制定定量磨损参数,并对检验测试范围内的光亮、光滑或粗糙表明上进行快速的合格/不合格检查。

  ContourX-200是一款自动化的非接触式晶圆级计量系统,可用于提高半导体在前端和后端制作的完整过程的产量并减少相关成本,执行CMP后的模具平面度检查,凸起高度、共面性和缺陷的识别与分析,测量构件结构的关键尺寸等。

  通过精确且可重复的亚纳米粗糙度测量,能够更好地了解缺陷形成的最终的原因,并优化抛光和精加工工艺。ContourX系列的非接触式光学轮廓仪能够很好的满足越来越严格的规范和ISO标准,适用于从小型非球面和自由曲面光学器件到复杂几何形状的光学元件,再到衍射光栅和微透镜等。

  德国布鲁克Bruker 探针式表面轮廓仪台阶仪 DektakXT 纳米级表面测量

  仪器仪表、实验室设备、机械设备及配件、机电设施及配件、电子科技类产品、化工原料及产品(除危险化学品、监控化学品、烟花爆竹、民用爆炸物品、易制毒化学品)、一般劳防用品、玻璃制品的销售;仪器仪表、实验室设备、机械设备及配件、机电设施及配件、电子科技类产品的技术开发、技术咨询、技术转让、技术服务;一类医疗器械、仪器仪表的维修;自有设备租赁(除金融租赁);广告设计、制作、利用自有媒体发布各类广告、电子商务(不可以从事增值电信、金融业务);从事货物及技术的进出口业务。(依法须经批准的项目,经有关部门批准后方可开展经营活动)

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